Tel : +86-591-86395085
Email : sales@uni-optics.com
UN-TFA1228L-20MP
· Illuminazione relativa elevata e contrasto elevato
· Bassa distorsione ed eccellente luminosità degli angoli
· Alta risoluzione
· Compatibile con fotocamera da 20 MP da 1'' e 1.1''
UN-TFA2520C
Prodotto Caratteristiche:
1. .Compatibile per 2 / 3 '' formato sensore
2. . Ultra-Compact design
3. .distorsione ultra bassa
4. .Illuminazione elevata relativa
5. .Performance ad alto costo
6. .Fornitura con messa a fuoco e blocco dell'iris Viti.
Prodotto Informazioni: Sono disponibili disegni personalizzati su Richiesta.
Scarica la scheda tecnica Data di UN-TFA2520C
UN-GSWIR2514C
| Obiettivo SWIR serie Ge m i n i |
|||
| Modello |
UN-GSWIR 25 14C |
||
| Lunghezza focale |
25 mm |
|
|
| Apertura |
F1.4 _ |
||
| Formato immagine |
1 ″ |
||
| Montare |
C |
||
| Angolo di campo |
|
1 ″ |
|
| D |
61,93 ° |
||
| H |
52,21 ° |
||
| V |
40,1 ° |
||
| Distorsione ottica |
< -0,96 % |
||
| MOD |
0,3 milioni |
||
| Dimensione |
Φ 36,5 * 54,91 mm |
||
| Flangia BFL |
17 . _ 526mm _ |
||
| Lunghezza focale posteriore _ _ |
11,51 mm |
||
| Risoluzione |
80 l/mm |
||
| Operazione |
Iride manuale |
||
| Messa a fuoco manuale |
|||
| Lunghezza d'onda di progettazione |
900-1700 nm |
||
| Filtro discussione |
M34 * 0,5 |
||
 |
|||
Line Scan Lens UN-ALS1164L-16K
For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.
· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge
Product information: Custom designs are available upon request.
Obiettivo C
diritto d'autore © UNI OPTICS CO., LTD © tutti i diritti riservati.
